超快荧光光谱系统-UF100

超快荧光光谱系统-UF100

超快时间分辨荧光光谱系统，是一套基于条纹相机搭建的荧光测试系统 。时间分辨率可达3.5ps。可用于扫描≤50ps—100us范围内的荧光寿命。
产品详情
应用实例
视频介绍

主要技术指标


检测方法

条纹相机

荧光上转换

克尔门

时间分辨率

≤3.5 ps

≤450 fs

≤1 ps

时间窗口

100 us

8 ns

8 ns

光谱探测范围

250-850 nm

360-900 nm

400-800 nm

探测器

条纹相机

高灵敏PMT

线阵制冷CCD

采谱方式

宽谱采集

动力学扫谱

宽谱采集

软件

数据采集/分析软件



可拓展模块


微区检测模块

空间分辨率≤500nm

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应用实例


· 条纹相机检测

实验条件

样品名称

CVD单层WS2

激发光波长

515 nm



   17_01 (2).png

· 超快荧光上转换检测

实验条件

样品名称

CdSe/ZnS量子点溶液

激发光波长

400 nm



   17_06.png

· 克尔门检测

实验条件

样品名称

钙钛矿

激发光波长

400 nm



   17_11.png
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